Рефлектометрия (от лат. reflecto - отражаю и греч. metreo - измеряю)
- совокупность методов исследования плоских границ раздела сред путём анализа
зеркально отражённых от изучаемой границы пучков молекул, атомов, частиц
или эл--магн. излучения. Наиб. разработана нейтронная Р., поэтому в узком
смысле Р.- совокупность методов изучения плоских границ раздела сред, в
основе к-рых лежит зеркальное отражение пучка низкоэнергетич. нейтронов
( ), падающих
под малыми углами скольжения (~10-3-10-2 рад) к плоскости
границы. Р. разделяют по типу изучаемых объектов на Р. немагнитных и Р.
магнитных сред. В первом случае используются пучки неполяризованных, во
втором - поляризованных нейтронов (п о л я р и з а ц. Р.). Методами Р.
изучают профиль ядерного нейтронно-оптич. потенциала (см. Нейтронная
оптика)вдоль нормали к границе на глубинах до неск. тысяч ангстрем,
а предметом излучения являются поверхности жидкостей, кристаллических или
аморфных тел (массивные пластины, тонкие плёнки на подложках), а также
внутр. границы в системах жидкость - жидкость, жидкость - твёрдое тело,
плёнка - подложка. С помощью поляризац. Р. изучается поведение вектора
локальной намагниченности по глубине, в частности особенности магн. свойств
приповерхностной (толщиной
)
области ферромагнетиков или идеальных диамагнетиков - сверхпроводников.
Объектами изучения в этом случае являются, как правило, массивные пластины
или тонкие плёнки на подложках.
Р. получила развитие как один из методов исследований по физике конденспров.
сред на импульсных источниках нейтронов. На рис. 1 и 2 показаны принципиальные
схемы рефлектометров по методу времени пролёта. Полихроматич. пучок тепловых
нейтронов от импульсного источника, сформированный с помощью поглощающих
диафрагм (коллиматоров) 1, 2 (рис. 1), падает на поверхность или
внутр. границу раздела образца 3 под углом скольжения
рад [угол
имеет разброс
].
Зеркально отражённые нейтроны регистрируются детектором нейтронов 4 и одновременно анализируются по скорости (длине волны) с помощью электронного
устройства (временного анализатора), по времени регистрации, т. с. по
времени пролёта нейтроном расстояния от источника до детектора. В поляризац.
рефлектометре (рис. 2) падающий пучок предварительно поляризован с помощью
поляризатора нейтронов 1, а образец 6 размещён в зазоре эл--магн.
системы 5 (напр., системы колец Гельмгольца), позволяющей создавать
на образце магн. поле, изменять его направление н (или) величину. Эл--магн.
система обеспечивает две важные функции: а) воздействует магн. полем на образец;
б) задаёт определ. направление вектора поляризации Р падающих нейтронов
относительно поверхности образца. Последнее обеспечивается благодаря адиабатич.
проведению спина нейтронов в магн. полях установки. Спец. эл--магн. устройство
- спин-флиппер 4 обеспечивает изменение знака поляризации в падающем
пучке. Изменение угла
производится с помощью механич. устройства поворота образца. Подвижный
детектор позволяет измерять как отражённый, так и падающий пучки. Разность
координат детектора, соответствующих положениям максимумов прямого и отражённых
пучков, позволяет определить угол
с высокой точностью. Совершенствование рефлектометров идёт по пути применения
однокоординатных позиционно-чувствит. детекторов нейтронов высокого разрешения
(
мм), а также
применения многопучкового способа облучения образца, т. е. формирования
не одного, а двух или более разнесённых по углу
узких пучков с раздельной регистрацией каждого из них после отражения.
Рис. 1. Схема нейтронного рефлектометра: 1, 2 - диафрагмы; 3 - образец,
поверхность которого облучается узкоколлимированным пучком тепловых нейтронов
п от источника; 4 - детектор, регистрирующий нейтроны, зеркально отраженные
от поверхности образца,
- угол скольжения. Типичное расстояние от диафрагмы 1 до детектора 6-10
м.
Рис. 2. Схема поляризационного нейтронного рефлектометра: 1 - поляризатор
полихроматических тепловых нейтронов; 2 - диафрагмы; 3 - постоянные магниты
для адиабатической проводки спина нейтрона; 4 - спин-флиппер, обеспечивающий
при включении реверс вектора поляризации Р относительно ведущего магнитного
поля; 5 - система колец Гельмгольца, задающая направление вектора Н относительно
плоскости образца; 6 - образец; 7 - детектор, регистрирующий зеркально
отражённый пучок.
Рис. 3. Экспериментальная зависимость коэффициента отражения
от поверхностей одного и того же образца стекла (пластина), получаемого
разливом на жидком олове; 1, 2 - коэффициенты отражения от поверхностей,
граничащих с оловом и воздухом соответственно. На вставках: пространственная
зависимость потенциалов U(z), обеспечивающих подгонку кривых
. Заштрихованы области шероховатости.
В Р. результаты измерения представляются в виде коэф. отражения
(рис. 3), связанного с интенсивностями падающего I0(kz)
и зеркально отражённого I(kz)пучков соотношением
Здесь kz - нормальная к границе раздела компонента волнового
вектора падающего нейтрона k (kz =). Теоретич. интерпретация функции R(kz)основывается
на решении стационарной квантовомеханич. задачи об отражении скалярной
плоской нейтронной волны
от границы одномерного потенциала
[
эВ - типичное
значение; N(z), b(z) - локальные (средние по плоскости ху)плотности
рассеивающих ядер и их нейтронных длин рассеяния]. Т. о., форма потенциала
U(z)определяется пространственными (вдоль г) особенностями плотности
и состава среды на микроскопич. уровне.
Причины, приводящие к размытию потенциала U(z)в приграничных
областях (~100),
в основном следующие: на поверхности - микрошероховатость, отличие поверхностной
плотности от объёмной, примеси; на внутр. межслойных границах, кроме перечисленных,-
взаимная диффузия.
Теоретич. значение R(kz)получают методами численного
решения стационарного Шрёдингера уравнения с модельным потенциалом
U(z). Для модели полубесконечной среды (массивная пластина) в области,
где применимо борновское приближение ,задача имеет аналитическое
решение:
где R0(kz) - козф. отражения от потенциала
с абсолютно резкой границей:
а
- компонента волнового вектора нейтрона в среде; m - масса нейтрона. Если
распределение градиента потенциала является гауссовым (см. Гаусса распределение;)
(случай шероховатой границы), то при всех
коэф. R(kz)с хорошим приближением описывается ф-лой
Нижние значения параметра шероховатости s, извлекаемые из эксперим.
значений R(kz), лежат в области неск. ангстрем. При отражении
нейтронов от тонких
плёнок, имеющих потенциал, отличный от потенциала подложки, зависимость
R от kz приобретает осциллирующий характер (рис.
4) вследствие интерференции волн, отражённых от поверхности и от границы
с подложкой. В результате средняя по площади толщина плёнки в неск. тысяч
определяется с точностью в неск.
Рис. 4. Экспериментально полученная зависимость коэффициента отражения
от поверхности тонкой золотой плёнки, полученной термическим напылением
на поверхность стекла. На вставке: форма потенциала U(z), обеспечивающего
подгонку кривой
Ферромагн. среды обладают способностью поляризовать тепловые нейтроны,
зеркально отражённые от их поверхности. Это объясняется тем, что потенциал
взаимодействия магн. момента нейтрона
с вектором локальной намагниченности образца М имеет, как правило,
значения, сравнимые с нейтронно-оптическим ядерным потенциалом U. Количественной
мерой процесса поляризации пучка при зеркальном отражении служит вектор
поляризующей способности среды Q(kz), к-рый задаёт величину
и направление поляризации, возникающей в отражённом пучке. Между вектором
Q(kz)и вектором Ms(z)[проекция вектора
M(z)на плоскость ху] имеется взаимно однозначное соответствие,
на основе к-рого из Q(kz)устанавливают распределение
Ms(z). Это позволяет применять поляризац. Р. в качестве
метода изучения структуры намагниченности тонких ферромагн. плёнок с неколлинеарным
по глубине осн. состоянием либо возникающим из коллинеарного под действием
внеш. магн. поля. Эта возможность - уникальное свойство нейтронной поляризац.
Р., поскольку др. методы исследования (электронная микроскопия и методы
на основе Керра эффекта)не позволяют для таких структур получать
полной информации.
В поляризац. Р. последовательно измеряют интенсивности отражённых пучков:
положительно поляризованного
(спин-флиппер выключен) и отрицательно поляризованного
(спин-флиппер включён). Знак поляризации пучка задаётся относительно вектора
Н ведущего магн. поля установки. Направление Н в месте расположения
образца определяет пространственное направление вектора Р поляризации
падающего пучка. Величины
и
связаны
со скалярным произведением векторов Р и Q(kz)соотношением
Т.о., для определения Qxyz компонент вектора Q(kz)конкретного образца достаточно измерить
для направлений Р вдоль х, у, z осей соответственно.
Поляризац. Р. используют как прямой метод изучения распределения по глубине диамагн. момента сверхпроводящего образца в приповерхностной области с целью определения лондоновской глубины проникновения магн. поля в сверхпроводник, находящийся в мейснеровской фазе. Формализм описания процесса отражения, служащий для ферромагнетиков, легко переносится на сверхпроводники - идеальные диамагнетики. Для изучения обычных диамагнетиков Р. не применяется.
Д. А. Корнеев
|
![]() |