Инфракрасная спектроскопия (ИК-спектроскопия) - раздел оптич. спектроскопии ,включающий исследование, получение и применение спектров испускания, поглощения и отражения в ИК-области спектра (см. Инфракрасное излучение
).ИК-спектры получают и исследуют в принципе теми же методами, что и
соответствующие спектры в видимой и УФ-областях, но с помощью спец.
спектральных приборов, предназначенных для использования в ИК-области,
снабжённых обычно зеркальной фокусирующей оптикой (см. Спектралъные приборы)и приёмниками, чувствительными к ИК-излучению (см. Приёмники оптического излучения).
И. с. занимается гл. обр. изучением молекулярных спектров, т. к. в
ИК-области расположено большинство колебат. и вращат. спектров молекул.
Кроме того, в И. с. исследуются спектры излучения атомов и ионов,
возникающего при переходах между близкими уровнями энергии (напр.,
зеемановскими подуровнями; см. Зеемана эффект
),спектры отражения и поглощения кристаллов и др. твёрдых тел, спектры
испускания ряда молекул, полупроводниковых и молекулярных лазеров и т.
д.
ПК-спектры молекул возникают при переходах между колебат. и вращат.
уровнями энергии. Получение и исследование молекулярных спектров
испускания в ИК-области в общем случае связано с нек-рыми трудностями,
т. к. при возбуждении молекул, напр, с помощью электрич. разряда пли при
нагревании, возможна диссоциация молекул
или изменение их структуры. Лишь для достаточно химически и термически
стойких молекул (обычно состоящих из небольшого числа атомов) и
стабильных хим. радикалов (напр., СО, СO2, Н2О, НСl, HF, CN, NO и т. д.) возможно возбуждение спектров излучения
(такие молекулы и радикалы используют в качестве активных сред в
молекулярных ИК-лазерах).
ИК-спектры селективного отражения применяются гл. обр. при исследовании
спектров монокристаллов, неорганич. твёрдых веществ, минералов и т. п.
Наиб, широко в И. с. применяются абсорбц. методы исследования
молекулярных спектров, т. к. для получения ИК-спектра поглощения
требуется лишь небольшое кол-во вещества, вещество можно исследовать в
разл. агрегатных состояниях, при различных температурах и давлениях,
растворы, твёрдые тела в разл. состояниях. Абсорбц. И. с. позволяет
получать спектры поглощения окрашенных и непрозрачных в видимой области
веществ, ярко люминесцирующих веществ и пр. С помощью перестраиваемых по
частоте ИК-лазеров регистрируют спектры поглощения со значительно более
высоким, чем в традиц. классич. методах, разрешением.
ИК-спектры поглощения образуются в результате селективного поглощения
излучения при распространении в веществе ИК-излучения, когда его частота
совпадает с нек-рыми собств. частотами колебаний
атомов в молекулах (в случае твёрдого тела - с частотами колебаний
кристаллич. решётки), а также с частотами вращения молекулы как целого. В
результате селективного поглощения в непрерывном спектре ИК-излучення,
прошедшего через вещество, образуются "провалы" - полосы поглощения. В
общем случае молекула, состоящая из N атомов, имеет 3N - 6 колебат. частот нормальных колебаний (при наличии симметрии
нек-рые колебания вырождаются) и 3 частоты вращения. В ИК-спектрах
поглощения наблюдаются только те молекулярные частоты, при к-рых в
процессе колебаний происходит изменение дипольного момента, т. е.
отлична от нуля производная дипольного момента р по соответствующей нормальной координате q:РplРq№0 (см. Отбора правила).
Чисто вращательные полосы ИК-поглощения наблюдаются лишь для полярных
молекул. Каждое вещество имеет определённый набор собств. колебат. и
вращат. частот, поэтому ИК-спектр поглощения является индивидуальной
характеристикой в-ва.
Измерение спектра ИК-поглощения сводится к измерению интенсивности
ИК-излучения, прошедшего через вещество, в зависимости от частоты
излучения v или длины волны К. В классич. абсорбц. И. с. излучение от источника с непрерывным ИК-спсктром (рис. 1) пропускают
Рис. 1. Принципиальная схема однолучевого ИК-спектрометра: Q - источник непрерывного ИК спектра; М1 - зеркало осветителя; М2 - зеркало конденсора; С - кювета с исследуемым веществом; М - монохроматор; Si и S2 - входная и выходная щели монохроматора; D - приёмник излучения; А - усилитель; I - измерительный или регистрирующий прибор.
через кювету с исследуемым веществом; прошедшее через вещество излучение
направляют на входную щель монохроматора, а из выходной его щели - на
приёмник излучения. Затем сигнал усиливается и измеряется или
регистрируется графопостроителем в процессе сканирования. В лазерной И.
с. измеряется зависимость интенсивности прошедшего через вещество
излучения узкополосного ИК-лазера (чаще полупроводникового с
перестраиваемой частотой) от частоты излучения лазера в процессе её
перестройки.
Связь между интенсивностью I(v)прошедшего через кювету с веществом излучения с длиной волны l (или волновым числом v (см~1) = 1/l) и величинами, характеризующими поглощающее вещество, даётся обобщённым
Бугера-Ламберта-Бера законом: I(v)=I'0(v)exp3[-k(v)cd], где k(v) - показатель поглощения, характеризующий поглощающее вещество, с - концентрация поглощающего вещества в растворе (с=1 для чистого вещества), d - толщина поглощающего слоя вещества (кюветы), I0(v)=b(v)I0(v), I0(v) - интенсивность излучения, падающего на кювету (перпендикулярно к её окнам), b(v)
-коэф. пропускания самой кюветы, учитывающий потери на отражение от
окон кюветы. Обычно ИК-спектр поглощения представляют графически в виде
зависимости от v (или l) величин, характеризующих только поглощающее вещество:
коэф. пропускания
T(v)=I(v)/I'0(v),
коэф. поглощения
A(v)=[I'0(v)-I(v)]/I'0(v)=1-T(v),
оптич. плотности
D(v)=lnI'0(v)/I0(v)=ln[1/T(v)]=k(v)cd,
и показателя поглощения
k(v)=D(v)/cd.
Величина D(v) линейно связана с k(v) и с,
потому её обычно используют при количеств, анализе по спектрам
поглощения. На практике закон Бугера - Ламберта - Вера также выражают в
виде: , где e(v)=0,434k(v) - показатель ослабления. В этом случае
D(v)=lgI'0(v)/I(v)=e(v)cd.
Закон Бугера - Ламберта - Вера справедлив при невысокой интенсивности потока падающего излучения, т. е. в том случае, когда населённость осн. уровня энергии меняется незначительно и Т(v)не зависит от величины I0(v).
Кроме того, пучок монохроматич. излучения, проходящего через кювету,
должен быть параллельным, а молекулы поглощать излучение независимо друг
от друга [т. е. k(v)не должно зависеть от с]. Последнее допущение позволяет обобщить этот закон на случай смеси из неск. поглощающих веществ: I(v)=I'0(v)l0-D(v), где
- сумма
оптич. плотностей отд. компонентов смеси. Это соотношение лежит в основе количеств, абсорбц. молекулярного спектрального анализа (однако в нек-рых реальных смесях оно не выполняется). Oпределение Т (v) и соответственно A(v)и D(v) сводится к независимому последовательному измерению
Рис. 3. Спектр поглощения жидкого индена в области 2,5-16 мкм. Сверху указаны толщины кювет, при которых получен
данный участок спектра.
величин I(v) и I0(v) и последующему определению I(v)/I0(v)=bT(v). Для получения величины b разработан ряд методов. Двухлучевые спектрофотометры непосредственно регистрируют отношение I(v)/I0(v).
Осн. параметры ИК-спектра поглощения - число полос поглощения, их положение (определяемое v
или l в максимуме поглощения), ширина и форма полос, величина
поглощения в максимуме. Они определяются хим. составом и структурой
молекул поглощающего вещества, а также зависят от агрегатного состояния
вещества, температуры, давления, природы растворителя (в случае растворов) и
др. ИК-спектры газообразных веществ при низких давлениях, полученные с
помощью спектрометров высокой разрешающей силы, имеют характерную колебательно-вращат. структуру (рис. 2) с большим числом узких вращат. линий (см. Молекулярные спектры ).Ширина отд. компонентов вращат.
Рис. 2. Спектр поглощения газообразного метана (СН4) (вращательно-колебательная полоса в области l=3,3 мкм).
структуры составляет десятые п даже сотые доли см-1 и
увеличивается с давлением газа. Колебательно-вращат. полосы в спектрах
жидкостей расширяются и сливаются в широкие, практически бесструктурные
полосы, ширина к-рых составляет 5-20 см-1 (рис. 3). Ширина
полос в ИК-спектрах кристаллов несколько меньше, чем у жидкостей, что
связано с упорядоченным расположением частиц в кристаллич. решётке.
ИК-спектры поглощения сложных молекул состоят из большого числа полос
(часто перекрывающихся) разл. интенсивности, и потому анализ такого
спектра и отнесение тех или иных полос поглощения к соответствующим
валентным и деформац. колебаниям молекул
связано с большими трудностями. Однако колебат. полосы поглощения
определ. хим. связей и групп атомов, как показал опыт, имеют близкие
частоты независимо от того, в состав каких молекул они входят. Пределы
характеристич. частот нек-рых хим. связей и групп атомов приведены в
табл. Анализ ИК-спектров поглощения с помощью ЭВМ позволяет разложить
сложные перекрывающиеся полосы поглощения на отдельные составляющие,
к-рые затем уже легче отнести к определ. видам нормальных колебаний
молекул.
Колебательно-вращат. спектры (расположенные в основном в области 2,5-50
мкм) и чисто вращательные
* в - валентное, ва - валентное асимметричное, вс -валентное симметричное колебания; д -различные формы деформационных колебаний.
(в области 50-1000 мкм) и особенно спектры поглощения разреженных газов,
полученные с помощью приборов высокой разрешающей силы, в т. ч. с
помощью перестраиваемых лазеров, применяются для определения структуры
молекул, их моментов инерции
и величин дипольных моментов, энергии межатомных взаимодействий,
механических коэф. ангармоничности, вращательных постоянных и пр.
Характеристичность частот колебаний позволяет проводить анализ сложных
органич. соединений и особенно неизвестных соединений. И. с. применяется
для анализа изомеров (рис. 4, см. Изомерия молекул
),для исследования строения полупроводниковых материалов, полимеров,
биол. объектов и непосредственно живых клеток. И. с. играет большую роль
в создании и изучении молекулярных ИК-лазеров. Быстродействующие
ИК-спектрометры позволяют получать спектры поглощения за доли секунды и
используются при изучении быстропротекающих хим. реакций. С помощью
спец. спектральных приборов можно получать спектры поглощения очень
малых объектов, что представляет интерес для биологии и минералогии. В
случае сильно поглощающих веществ, из к-рых не удаётся создать тонкий
слой, для получения спектров ИК-поглощения применяются методы нарушенного полного внутреннего отражения
(НПВО).
Для получения ИК-спектров поглощения используется большое число разл.
спектрометров. Спектрометры с призменными монохроматорами позволяют
получать спектры с разрешением dv~l-3 см-1 и
применяются лишь для исследования спектров конденсированных сред.
Серийные спектрометры с дифракц. монохроматорами дают возможность
получать спектры с разрешением
до dv~0,2 см-1, уникальные дифракц. спектрометры - dv~0,02-0,05 см-1 и применяются для исследования спектров разреженных молекулярных газов. Разрешение Фурье спектрометров может достигать dv~0,005 см-1. При использовании перестраиваемых по частоте лазеров спектральное разрешение ИК-спектров
Рис. 4. Спектры поглощения о-, m- и р-изомеров жидкого крезола;
стрелками отмечены характеристические полосы поглощения отдельных
изомеров.
поглощения определяется шириной линии генерации лазера; при использовании полупроводниковых лазеров оно достигает dv~10-3-10-4 см-1, а газовых лазеров - несколько выше, хотя при этом область перестройки частоты обычно невелика. Нек-рые ИК-спектрометры имеют встроенную мини-ЭВМ, к-рая используется при регистрации и автоматич. обработке ИК-спектров: определения частот полос поглощения, их интенсивностей и др. С 70-х гг. в И. с. получил распространение метод фотоакустической спектроскопии для получения ИК-спектров поглощения газов, твёрдых тел и особенно дисперсных сред. Наиб, хорошо разработаны методы И. с. в ближней и средней ИК-области спектра, далёкая ИК-область освоена несколько хуже, но исследование ИК-спектров в этой области представляет большой интерес, т. к. в ней расположены частоты чисто вращательных переходов, а также частоты колебаний мн. кристаллич. решёток, молекул, содержащих тяжёлые атомы, межмолекулярные колебания и т. д. Развиваются методы И. с. в далёкой ИК-области спектра, использующие в качестве источников излучения лазеры и лампы обратной волны (см. Субмиллиметровая спектроскопия).
В. И. Малышев