Ганна эффект - генерация высокочастотных колебаний электрич. тока в полупроводниках с N-образной
объёмной вольтамперной характеристикой (рис. 1).
Рис. 1. N-образная
вольтамперная характеристика j(E). Пунктиром изображена ветвь, к-рая
не наблюдается в типичных полупроводниках, где возникает эффект Ганна.
Обнаружен в 1963 Дж. Б.
Ганном (J. В. Gunn) в GaAs и InP с электронной проводимостью. Генерация возникает,
если пост. напряжение U, приложенное к образцу длиной l, таково,
что ср. электрич. поле в образце E=U/I соответствует падающему участку
вольтамперной характеристики (зависимости плотности тока j от напряжённости
электрич. поля E), на к-ром дифференц. сопротивление dE/dj отрицательно
(см. Отрицательное дифференциальное сопротивление ).Колебания тока имеют
вид периодич. последовательности импульсов (рис. 2), их частота увеличивается
с уменьшением l (в достаточно длинных образцах как l-1, см. ниже).
Г. э. наблюдается гл. обр.
в т. н. многодолинных полупроводниках, зона проводимости к-рых состоит
из одной ниж. долины и одной или неск. верх. долин. Подвижность электронов в
верх. долинах значительно меньше, чем в ниж. долине. В сильных электрич. полях
происходит разогрев электронов (см. Горячие электроны)и часть электронов
переходит из ниж. долины в верхние, вследствие чего ср. подвижность носителей
заряда и электропроводность падают. Это приводит к падению плотности тока с
ростом E в полях, превышающих нек-рое критич. поле Екр.
Г. э. вызван тем, что в
образце в режиме пост. напряжения периодически возникает, перемещается по нему
и исчезает область сильного электрич. поля, наз. электрич. доменом или доменом
Ганна. Домен возникает потому, что однородное распределение электрич. поля вдоль
образца неустойчиво в том случае, когда объёмное дифференц. сопротивление отрицательно.
Действительно, пусть в полупроводнике случайно возникло неоднородное распределение
концентрации электронов в виде дипольного слоя: в одной области концентрация
увеличилась, а в другой - ниже по течению электронов - уменьшилась (рис. 3).
Между этими заряженными областями возникает дополнит. электрич. поле
(как между обкладками конденсатора), к-рое добавляется к внешнему, так что поле
внутри дипольного слоя больше, чем вне его. Если дифференц. сопротивление положительно,
т. е. ток растёт с ростом поля, то и ток внутри слоя больше, чем вне его. Поэтому,
напр., из области с повышенной плотностью электронов они вытекают в большем
кол-ве, чем втекают, в результате чего возникшая случайно неоднородность рассасывается.
Если же дифференц. сопротивление отрицательное (ток падает с ростом поля), то
плотность тока меньше там, где поле больше, т. е. внутри слоя. Первоначально
возникшая неоднородность не рассасывается, а, напротив, нарастает. Растёт и
падение напряжения на дипольном слое, а вне его падает (т. к. полное напряжение
на образце задано). В конце концов образуется стационарный электрич. домен,
движущийся с пост. скоростью. T. к. домен образован электронами проводимости,
он движется в направлении их дрейфа со скоростью ,
близкой к дрейфовой скорости носителей вне домена. На переднем фронте домена
- обеднённый (электронами) слой, на заднем - обогащённый слой (рис. 4). Вне
домена электрич. поле меньше критич. поля ,
благодаря чему новые домены не образуются. Устойчивое состояние образца - состояние
с одним доменом.
Рис. 2. Форма колебаний
тока j (t) в случае эффекта Ганна.
Рис. 3. Разделение зарядов при развитии неустойчивости и образовании домена. Электроны движутся против поля Е.
Рис. 4. Распределение электрического
поля E (сплошная кривая) и плотности заряда
(пунктир) в домене Ганна, движущемся слева направо в полупроводнике р-типа.
Обычно домен возникает
вблизи катода и, дойдя до анода, исчезает. По мере его исчезновения падение
напряжения на домене уменьшается, а на остальной части образца соответственно
растёт. Вместе с увеличением поля вне домена растёт и ток в образце. По мере
приближения этого поля к Екр плотность тока j приближается
к jкр (рис. 1). Когда поле вне домена становится больше Екр,
у катода начинает формироваться новый домен, ток падает и процесс повторяется.
Частота колебаний тока в длинных образцах, когда временем формирования домена
можно пренебречь,
, в отличие от генерации колебаний в др. приборах с N-образной вольтамперной
характеристикой, например в цепи с туннельным диодом, где генерация не
связана с образованием и движением доменов, а частота колебаний определяется
ёмкостью и индуктивностью цепи (см. Генератор электромагнитных колебаний).
Характерное время нарастания
возмущений, приводящих к образованию домена, равно т. н. максвелловскому времени
, где
- диэлектрич. проницаемость кристалла, дифференциальная проводимость
, п - концентрация носителей заряда, дифференц. подвижность носителей
, е - заряд электрона. В коротком образце стационарный домен может вообще не сформироваться.
Это объясняется двумя причинами. Во-первых, росту домена препятствует диффузия
электронов: домен образуется, если ,
где D - коэф. диффузии электронов. Во-вторых, домен при нарастании "сносится"
в направлении потока осн. носителей заряда. Поэтому стационарный домен успеет
сформироваться, если .
Это условие обычно жёстче предыдущего. Его можно переписать в виде т. н. критерия
Крёмера: . T.
о., движение стационарных доменов может наблюдаться в достаточно длинных образцах
с достаточно высокой концентрацией носителей заряда. В более коротких образцах,
длина которых меньше размера домена, тоже возникают колебания тока, вызываемые
колебаниями плотности объёмного заряда, которые можно рассматривать как движение
неполностью сформировавшихся доменов Ганна.
В GaAs n-типа поле
Екр~3*103 В/см, скорость v~107
см/с, размер домена неск. мкм, поле в нём 40-200 кВ/см, наименьшая величина
произведения nl (она соответствует макс. величине
при нек-ром поле E>Eкр)равна ~3*1011 см-2.
При I=1 мм - 5 мкм частота колебаний тока f=0,1-20 ГГц.
Г. э. наблюдается помимо
GaAs и InP также в др. полупроводниках с электронной проводимостью: InSb, CdTe,
Ge, InxGa1-xAs, GaSbxAs1-x, GaxIn1-xSb,
GaAsxP1_х и др., а также в одноосно-деформированном
Ge с дырочной проводимостью. Г. э. используется для создания генераторов и усилителей
СВЧ (см. Ганна диод).
А. Ф. Волков, Ш. M. Коган