к библиотеке   к оглавлению   FAQ по эфирной физике   ТОЭЭ   ТЭЦ   ТПОИ   ТИ  

РЕАЛЬНАЯ ФИЗИКА

Глоссарий по физике

А   Б   В   Г   Д   Е   Ж   З   И   К   Л   М   Н   О   П   Р   С   Т   У   Ф   Х   Ц   Ч   Ш   Э   Ю   Я  

Лауэ метод

Лауэ метод - метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей; один из методов рентгеновского структурного анализа. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного в 1912 В. Фридрихом (W. Fried-rich) и П. Книппингом (P. Knipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue); в этом эксперименте была открыта дифракция рентг. излучения на кристалле.

2548-81.jpg

Схема метода Лауэ: SO - первичный пучок лучей; К - кристалл; ММ' - пространственная ориентация одной из находящихся в отражающем положении систем атомных плоскостей кристалла; KL - отражённый (дифрагированный) луч; 2548-82.jpg - фотоплёнка.

В Л. м. тонкий пучок рентг. лучей непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый на гониометрич. головке (см. Рентгеновский гониометр ).Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга - Вулъфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему пучку лучей; полученное изображение наз. лауэграм-мой. В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой. Л. м. применяется для пространственной ориентировки монокристаллов (в особенности неогранённых), определения точечной группы симметрии кристаллов, исследования реальной структуры и совершенства внутр. строения монокристаллов (см. также Рентгеновская топография ).Л. м. используется также для исследования процессов старения и распада в метас-табильных фазах, перестройки кристаллич. структуры под действием температуры, облучения нейтронами или g-излучением (см. Рентгенография материалов ),а также неупругих когерентных процессов рассеяния рентг. излучения и др. проблем.

Литература по методу Лауэ

  1. Амелинкс С., Методы прямого наблюдения дислокаций [кристаллов], пер. с англ., M., 1968;
  2. Афанасьев A. M., Александров П. А., Имамов P.M., Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов, M., 1986;
  3. Белов Н. В., Структурная кристаллография, М., 1951;
  4. Беляков В. А., Сонин А. С., Оптика холестерических жидких кристаллов, M., 1982;
  5. Бландел Т., Джонсон Л., Кристаллография белка, пер. с англ., М., 1979;
  6. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М. А., Рентгеноструктурный анализ, 2 изд., т. 1, М., 1964;
  7. Бюргер М., Структура кристаллов и векторное пространство, пер. с англ., М., 1961;
  8. Вайнштейн Б. К., Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии, М., 1979;
  9. Гинье А., Рентгенография кристаллвв. Теория и практика, пер. с франц., М., 1961;
  10. Джеймс Р., Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей, пер. с англ., M., 1950;
  11. Жданов Г. С., Основы рентгеновского структурного анализа, M.- Л., 1940;
  12. Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956;
  13. Порай-Кошиц M. А., Практический курс рентгеноструктурного анализа, т. 2, M., 1960;
  14. Иверонова В. И., Ревкевич Г. П., Теория рассеяния рентгеновских лучей, 2 изд., M., 1978;
  15. Скрышевский А. Ф., Структурный анализ жидкостей и аморфных тел, 2 изд., M., 1980;
  16. Кривоглаз M. А., Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах, К., 1983;
  17. Кристаллография и кристаллохимия, М., 1986;
  18. Пинскер З. Г., Рентгеновская кристаллооптика, M., 1982.
  19. Stout G, Н., Jеnsеn L. Н., X-ray structure determination, N. Y.- L., 1968;
  20. Xейкер Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973;
  21. Electron and magnetization densities in molecules and crystals, ed. by P. Becker, N. Y.- L., 1980;
  22. Structure and physical properties of crystals, Barselona, 1991.

А. В. Колпаков

к библиотеке   к оглавлению   FAQ по эфирной физике   ТОЭЭ   ТЭЦ   ТПОИ   ТИ  

Знаете ли Вы, что, как и всякая идолопоклонническая религия, релятивизм ложен в своей основе. Он противоречит фактам. Среди них такие:

1. Электромагнитная волна (в религиозной терминологии релятивизма - "свет") имеет строго постоянную скорость 300 тыс.км/с, абсурдно не отсчитываемую ни от чего. Реально ЭМ-волны имеют разную скорость в веществе (например, ~200 тыс км/с в стекле и ~3 млн. км/с в поверхностных слоях металлов, разную скорость в эфире (см. статью "Температура эфира и красные смещения"), разную скорость для разных частот (см. статью "О скорости ЭМ-волн")

2. В релятивизме "свет" есть мифическое явление само по себе, а не физическая волна, являющаяся волнением определенной физической среды. Релятивистский "свет" - это волнение ничего в ничем. У него нет среды-носителя колебаний.

3. В релятивизме возможны манипуляции со временем (замедление), поэтому там нарушаются основополагающие для любой науки принцип причинности и принцип строгой логичности. В релятивизме при скорости света время останавливается (поэтому в нем абсурдно говорить о частоте фотона). В релятивизме возможны такие насилия над разумом, как утверждение о взаимном превышении возраста близнецов, движущихся с субсветовой скоростью, и прочие издевательства над логикой, присущие любой религии.

4. В гравитационном релятивизме (ОТО) вопреки наблюдаемым фактам утверждается об угловом отклонении ЭМ-волн в пустом пространстве под действием гравитации. Однако астрономам известно, что свет от затменных двойных звезд не подвержен такому отклонению, а те "подтверждающие теорию Эйнштейна факты", которые якобы наблюдались А. Эддингтоном в 1919 году в отношении Солнца, являются фальсификацией. Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.

Bourabai Research Institution home page

Bourabai Research - Технологии XXI века Bourabai Research Institution