Пьезоспектроскопия - прецизионный метод исследования зависимости свойств твёрдых тел от внеш. давления методами оптич.
спектроскопии. Особенно эффективна П. для изучения электронных свойств полупроводников, зависящих от их зонной структуры, в частности от ширины запрещённой зоны
Т. к.
зависит от межатомного расстояния (межатомной связи), то с увеличением давления
p можно было бы ожидать роста
Оказалось, что в прямозонных полупроводниках действительно
обычно растёт (исключение - Те и халькогениды Pb ). В кристаллах с неск. минимумами функции
в зоне проводимости (-
энергия электрона,-
его импульс) для одних минимумов
растёт, для других - убывает. Напр., при увеличении давления
в Ge увеличивается с градиентом 7,5·10-3 эВ/кбар (в InSb и GaAs -
12·10 эВ/кбар), но при r50
кбар X-минимум зоны проводимости становится ниже i-минимума, что означает уменьшениес
ростом давления (рис.). Т. о., отрицат.
значение означает,
что величинуначинает
определять др. минимум, чем при нормальном давлении.
Изменение ширины запрещённой зоны в
зависимости от давления для Si и Ge.
Теория, описывающая влияние давления на электронный
спектр, построена для ковалентных и ионных кристаллов. Отражение и поглощение
света в полупроводнике (а также фотопроводимость)определяются зависимостью
диэлектрич. проницаемости от частоты w (см. Диэлектрики ).Действительная
e' и мнимая e'' части функции e(w) связаны с коэф. поглощения
a и преломления n света соотношениями
(m - магн. проницаемость). Зависимость e(w)
определяется электронами и ионами кристалла. Электронная часть диэлектрич. проницаемости
+.
В случае, когда энергия светового кванта
превышает ширину запрещённой зоныполупроводника,,
определяемое Крамерса-Кронига соотношением, меняется с давлением
незначительно, а изменениядаются
ф-лой
Здесь т - масса электрона, М1,
М2, М3 - гл. компоненты тензора приведённой массы
М =(mЭ-1+mд-1)-1,
mэ, mд - гл. компоненты тензора эффективной
массы электрона и дырки, е - заряд электрона, -
вектор поляризации света, е - матричные элементы операторов импульса
электронов (дырок). Множитель
отражает зависимость плотности, состояний в зоне проводимости (валентной
зоне) от энергии кванта. Матричные элементы е слабо зависят от давления
(как и постоянная решётки). Незначительно меняются и эфф. массы носителей, т.
е. М. Осн. влияние давления связано со сдвигом электронных уровней, определяющих
плотность состояний. Давление позволяет не только сдвигать электронные уровни,
но и изменять электронный спектр.
По спектральной зависимости коэф. поглощения
света можно
определить
в исходном и деформированном кристаллах;
изменяется с ростом давления примерно на b10-5- 10-6
эВ/кбар.
Вклад ионов в функцию e(w) слабо зависит
от давления. Изменения
отражают в осн. изменения фононного спектра
с давлением. В случае ковалентных кристаллов частоты оптич. продольных LO- и поперечных TO-колебаний решётки растут с давлением, а
частоты акустич. LA- и ТА -колебаний падают (см. Колебания
кристаллической решётки). Изменение межатомного расстояния под действием
давления меняет конфигурацию электронной оболочки колеблющихся атомов, поэтому
меняется и эфф. заряд ионов (знак изменения возможен любой).
Все вышеперечисленные эффекты проявляются при
однородном гидростатич. давлении. В то время как оно не меняет симметрию решётки,
одноосное напряжение понижает симметрию системы и поэтому приводит к расщеплению
первоначально вырожденных уровней. Новый тип симметрии кристалла зависит от
направления, в к-ром приложено напряжение.
Одноосные напряжения изменяют симметрию зоны
Бриллюэна. Поскольку нек-рые точки k в зоне становятся при этом неэквивалентными,
приложение одноосного напряжения приводит к дополнит. расщеплению уровней. Это
детально проверено при исследовании пьезопоглощения света у края межзонного
перехода и пьезоотражения в др. критич. точках. Именно так была подтверждена
интерпретация края поглощения в Ge и Si, где минимум зоны проводимости расположен
в точке L и на оси D.
Метод П. эффективен при изучении симметрии примесных и экситонных состояний. В случае мелких примесей или слабосвязанных экситонов прежде всего существенно влияние напряжения на структуру энергетич. зон. Затем устанавливают, как это сказывается на связанных состояниях, происходящих от разл. критич. точек. У глубоких примесей энергия связи зависит больше от конфигурации ближайших атомов и ионов, чем от сдвигов зон. Поэтому влияние одноосного напряжения на примесные уровни тем сильнее, чем глубже потенциал примеси и чем больше локализованы волновые функции.
С. Е. Есипов
Дело в том, что в его постановке и выводах произведена подмена, аналогичная подмене в школьной шуточной задачке на сообразительность, в которой спрашивается:
- Cколько яблок на березе, если на одной ветке их 5, на другой ветке - 10 и так далее
При этом внимание учеников намеренно отвлекается от того основополагающего факта, что на березе яблоки не растут, в принципе.
В эксперименте Майкельсона ставится вопрос о движении эфира относительно покоящегося в лабораторной системе интерферометра. Однако, если мы ищем эфир, как базовую материю, из которой состоит всё вещество интерферометра, лаборатории, да и Земли в целом, то, естественно, эфир тоже будет неподвижен, так как земное вещество есть всего навсего определенным образом структурированный эфир, и никак не может двигаться относительно самого себя.
Удивительно, что этот цирковой трюк овладел на 120 лет умами физиков на полном серьезе, хотя его прототипы есть в сказках-небылицах всех народов всех времен, включая барона Мюнхаузена, вытащившего себя за волосы из болота, и призванных показать детям возможные жульничества и тем защитить их во взрослой жизни. Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.