Вакуумная спектроскопия - раздел спектроскопии, включающий получение, исследование и применение
спектров испускания, поглощения и отражения в вакуумной ультрафиолетовой (200-10
нм) и мягкой рентгеновской (от 10 до 0,4-0,6 нм) областях спектра. В этом интервале
длин волн воздух обладает сильным поглощением, поэтому спектральные приборы
должны быть вакуумными - их оптич. части, источник излучения и приёмник помещают
в откачанную до давления 10-4-10-5 мм рт. ст. герметич.
камеру, к-рую можно заполнить инертным газом (миним. длина волны излучения,
к-рую при этом можно использовать, -ок. 58 нм -получается при заполнении камеры
гелием).
Спектральные приборы и
методы, применяемые в вакуумной спектроскопии, обладают рядом специфич. особенностей. Не существует
оптич. материалов, прозрачных во всей вакуумной области, поэтому в её КВ-области
окна, линзы и призмы непригодны. В КВ-приборах с длиной волныдо
110 и 125 нм с призмами и линзами применяют кристаллы LiF и CaF2.
Для ещё более коротковолновой области изготовляют вакуумные приборы с вогнутыми
дифракц. решётками; в этом случае дополнит. фокусирующие системы не нужны. В
приборах для
>110 нм, имеющих отражающие покрытия с достаточно высоким коэф. отражения
(напр., алюминий с защитным слоем из LiF или MgF2), используются
вогнутые решётки, на к-рые излучение падает под углами, близкими к нормали.
В этой же области работают приборы с плоской решёткой и отражающей фокусирующей
оптикой. Для <100
нм коэф. отражения всех материалов при нормальном падении значительно уменьшается,
и для повышения светосилы спектрального прибора разработаны схемы со скользящим
падением излучения на вогнутую дифракц. решётку, причём миним. рабочая длина
волны (в нм) примерно равна значению угла скольжения излучения (в град); коротковолновая
граница рабочей области таких приборов 5-1 нм. Повышение дисперсии и разрешающей
способности приборов с вогнутой дифракц. решёткой осуществляется увеличением
радиуса кривизны (достигает 10 м), а также уменьшением периода решётки (число
штрихов до 3600 на 1 мм). Для исследования излучения<~1,5
нм применяют спектральные приборы, в к-рых диспергирующим элементом служит кристалл
(слюда, кварц и т. д.).
В качестве источников излучения
в вакуумной спектроскопии служат газовые разряды, электрич. искры, рентг. трубки, а также плазма,
образующаяся в вакууме при фокусировке мощного импульсного лазерного излучения
на твёрдую мишень. Важным способом получения спектров в вакуумной спектроскопии является пучково-плёночный
метод, в к-ром атомные или ионные спектры возбуждаются при прохождении через
тонкую фольгу пучка быстрых ионов. Абс. стандартом интенсивности в вакуумной спектроскопии является
синхротронное излучение.
Для регистрации спектров в вакуумной спектроскопии применяются спец. маложелатиновые фотоматериалы и фотоэлектрич. приёмники:
фотодиоды, ионизац. камеры, счётчики фотонов, фотоумножители и т. д. Составленные
из миниатюрных (диам. до 10 мкм) каналовых электронных умножителей микроканаловые
пластины позволяют получать изображения спектров в вакуумной области и объединяют,
т. о., свойства фотографич. и фотоэлектрич. методов регистрации. Для градуировочных
целей в вакуумной спектроскопии используются также термопары.
Ввакуумная спектроскопия широко применяется
при исследованиях атомов, ионов, молекул и твёрдых тел для изучения их энергетич.
структуры, вероятностей переходов и др. характеристик. В область<200
нм попадают резонансные переходы ряда нейтральных атомов, подавляющего большинства
одно- и двукратно ионизованных атомов, а также всех ионов более высокой кратности
ионизации. Электронно-колебательно-вращательные переходы многих
молекул, как и прямые переходы из валентной зоны в зону проводимости у нм. полупроводников,
также расположены в вакуумной УФ-области спектра. В KB-части вакуумного диапазона
находятся L-, M- и т. д. серии рентгеновских спектров.
Вакуумная спектроскопия имеет
большое значение для диагностики высокотемпературной плазмы, в работах по получению
УТС, а также для исследования Солнца, звёзд, туманностей и т. д.
A. H. Рябцев