Эксперименты. Частотные характеристики простейших схем

Цель 1. Исследование амплитудно-частотных характеристик элементов последовательного колебательного контура (резонанс напряжений). 2. Исследование фазочастотных характеристик элементов последовательного колебательного контура (резонанс напряжений). 3. Исследование амплитудно-частотных характеристик элементов параллельного колебательного контура (резонанс токов). 4. Исследование фазочастотных характеристик элементов параллельного колебательного контура(резонанс токов).

Краткие сведения из теории 1. Резонанс в последовательном колебательном контуре (резонанс напряжений). Схема последовательного колебательного контура и векторная диаграмма для режима резонанса представлены на рис. 5.1

Контур характеризуется следующими параметрами:

где Ucpез, ULpeз, URpeз - напряжения при резонансе на емкости, индуктивности и сопротивлении соответственно, хсрез, хLрез - реактивное сопротивление конденсатора и индуктивности на резонансной частоте. 2. Векторные диаграммы для последовательного контура при (ш > шрез)-Векторные диаграммы при увеличении частоты (ш> шрез) представлены на рис. 5.2 (слева представлена диаграмма для промежуточной частоты ш> шрез, справа - для предельного случая . С ростом частоты емкостное сопротивление убывает, а индуктивное нарастает, при этом суммарное реактивное сопротивление растет (рис. 5.2). Угол сдвига (о между входным током и напряжением увеличивается по абсолютному значению, оставаясь положительным. Напряжение на катушке индуктивности при росте частоты сначала увеличивается за счет роста сопротивления, а затем снижается из-за снижения тока в цепи. Максимум действующего значения напряжения достигается при характерной частоте FL

Эксперимент 1. Измерение частотных характеристик последовательного колебательного контура с помощью осциллографа. а) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при резонансной частоте. Рассчитайте резонансную частоту о)о, частоту максимума напряжения на катушке индуктивности (OLH частоту максимума напряжения на конденсаторе Юс. Результаты расчета занесите в таблицу 5.1 в разделе «Результаты экспериментов». Откройте файл с5_01.са4 (рис. 5.7). Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы напряжений на резисторе Up, конденсаторе UQ и катушке индуктивности UL. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу Е, Up, Uc и UL для Г=Грез с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этих частот, направив в каждой диаграмме ток по действительной оси. б) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при частоте F=0.5Fc. Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы напряжений на резисторе UR, конденсаторе Up и катушке индуктивности Ui при F=0.5Fc. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу Е, ид, ид и UL с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этой частоты, направив в каждой диаграмме ток по действительной оси.

в) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при частоте F=2F^. Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы напряжений на резисторе UR, конденсаторе Uc и катушке индуктивности UL, напряжений на резисторе Up, конденсаторе Uc и катушке индуктивности UL для F=2Fi.. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу Е, UR, Uc и UL с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этой частоты, направив в каждой диаграмме ток по действительной оси. Эксперимент 2. Частотные характеристики последовательного колебательного контура (исследования с помощью Боде-плоттера). Откройте файл с5_02.са4 (рис. 5.8). Подключая вывод Боде-плоттера на различные элементы контура (точки UL, UR, Uc на рис. 5.S), определите значения амплитудно-частотных и фазочастотных характеристик для частот 0, Шс / 4, (Ор / 2, Юр, (о)о-(0с) / 2, С0о, ((Оь-й1о) / 2, 0)ц 2o>L, 4oiL. Зарисуйте частотные характеристики на экранах Боде-плоттера, приведенных в разделе «Результаты экспериментов». Сравните результаты, полученные с помощью Боде-плоттера и осциллографа.

Рассчитайте амплитудно-частотные и фазочастотные характеристики для напряжении на резисторе Ur ), конденсаторе Uc и катушке индуктивности UL для частот

По результатам расчета нанесите точки АЧХ и ФЧХ для напряжений на сопротивлении, катушке индуктивности и конденсаторе на экспериментальные графики в разделе «Результаты экспериментов». Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этих частот, направив в каждой диаграмме ток по действительной оси.

Эксперимент 3. Измерение частотных характеристик параллельного колебательного контура с помощью осциллографа. а) Измерение действующих значений и фаз токов через элементы при резонансной частоте. Рассчитайте резонансную частоту, частоту максимума тока через катушку индуктивности через конденсатор . Результаты расчета занесите в таблицу 5. 2 в разделе «Результаты экспериментов?. Откройте файл с5_03. са4 (рис. 5. 9). Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы токов через резистор IR, конденсатор Ic и катушку индуктивности IL. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу J, IR, Ic и IL для F=Fрез с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этих частот, направив в каждой диаграмме напряжение по действительной оси.

б) Измерение действующих значений и фаз тока через элементы при частоте F=0. 5 FL,. Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы токов через резистор iR, конденсатор ic и катушку индуктивности IL при F=0, 5FL. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу J, IR, ic и IL для F=Fpeз с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этих частот, направив в каждой диаграмме напряжение по действительной оси.

в) Измерение действующих значений и фаз токов через элементы. при частоте F=2Fc. Рассчитайте резонансную частоту, частоту максимума напряжения на катушке индуктивности частоту максимума напряжения на конденсаторе . Получите и зарисуйте на экране осциллографа в разделе «Результаты экспериментов» осциллограммы токов через резистор IR, конденсатор Iс и катушку индуктивности IL при F=2Fc. Рассчитайте и измерьте действующее значение и фазу J, IК, Iс и IL для F=Fp с помощью осциллографа. Постройте векторные диаграммы на комплексной плоскости для этих частот, направив в каждой диаграмме напряжение по действительной оси.

Эксперимент 4. Частотные характеристики параллельного колебательного контура (исследования с помощью Боде-плоттера). Откройте файл с5_04. са4 (рис. 5. 10). Подключая вывод Боде-плоттера на различные элементы контура (точки IL, IR, ic на. рис. 5.8), определите значения амплитудно-частотных и фазочастотных характеристик для частот . Зарисуйте частотные характеристики на экранах Боде-плоттера, приведенных в разделе «Результаты экспериментов». Сравните результаты, полученные с помощью Боде-плоттера и осциллографа. Рассчитайте амплитудно-частотные и фазочастотные характеристики для напряжений на резисторе Ин(ю), конденсаторе ис(со) и катушке индуктивности ui.(co) для частот . По результатам расчета нанесите точки АЧХ и ФЧХ для токов через сопротивление и катушку индуктивности и конденсатор на экспериментальные графики в разделе «Результаты экспериментов».

Результаты экспериментов Эксперимент 1. Измерение частотных характеристик последовательного колебательного контура с помощью осциллографа. а) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при резонансной частоте.

Расчет (фаз напряжений по результатам измерений

б) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при частоте F=O.5Fc.

Расчет фаз напряжений по результатам измерений

в) Измерение действующих значений и фаз напряжений на элементах при частоте F=2FL.

Расчет фаз напряжений по результатам измерений

Эксперимент 2. Частотные характеристики последовательного колебательного контура (исследования с помощью Боде-плоттера). Таблица 5. 1

Параметры		Значения параметров
		Частота, Гц
		о,	Fc/4,	Fc/20,	Ус.	(Fo-Fc)/2,	FO.	(Fb-Fo)/2,	FL,	2Рь,	4F,.,
		Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц
F, Гц	расч.
I. A	расч.
I. A	эксп.
UR, B	расч.
UR, B	эксп.
UL,B	расч.
UL,B	эксп.
Uc. B	расч.
Uc. B	эксп.
ф, град	расч.
ф, град	эксп.
Фь,град	расч.
Фь,град	эксп.
фс-, град	расч.
фс-, град	эксп.

Эксперимент 3. Измерение частотных характеристик параллельного колебательного контура для трех частот с помощью осциллографа. а) Измерение действующих значений и фаз токов через элементы, при резонансной частоте.

б) Измерение действующих значений и фаз тока через элементы, при частоте F=0.5F,

в) Измерение действующих значений и фаз токов через элементы при частоте F=2Fc.

Эксперимент 4. Частотные характеристики параллельного колебательного контура. Таблица 5.2

Параметры		Значения параметров
		Частота, Гц
		о,	Fc/4,	Fc/20,	FC.	(Fo-Fc)/2,	FO,	(FL-Fo)/2,	FL,	2FL,	4FL,
		Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц	Гц
F,Гц	расч.
I,A	расч.
I,A	эксп.
UR,B	расч.
UR,B	эксп.
UL,B	расч.
UL,B	эксп.
Uc,B	расч.
Uc,B	эксп.
ФR град	расч.
ФR град	эксп.
ФL град	расч.
ФL град	эксп.
Фс. град	расч.
Фс. град	эксп.

Знаете ли Вы, что cогласно релятивистской мифологии "гравитационное линзирование - это физическое явление, связанное с отклонением лучей света в поле тяжести. Гравитационные линзы обясняют образование кратных изображений одного и того же астрономического объекта (квазаров, галактик), когда на луч зрения от источника к наблюдателю попадает другая галактика или скопление галактик (собственно линза). В некоторых изображениях происходит усиление яркости оригинального источника." (Релятивисты приводят примеры искажения изображений галактик в качестве подтверждения ОТО - воздействия гравитации на свет)
При этом они забывают, что поле действия эффекта ОТО - это малые углы вблизи поверхности звезд, где на самом деле этот эффект не наблюдается (затменные двойные). Разница в шкалах явлений реального искажения изображений галактик и мифического отклонения вблизи звезд - 10¹¹ раз. Приведу аналогию. Можно говорить о воздействии поверхностного натяжения на форму капель, но нельзя серьезно говорить о силе поверхностного натяжения, как о причине океанских приливов.
Эфирная физика находит ответ на наблюдаемое явление искажения изображений галактик. Это результат нагрева эфира вблизи галактик, изменения его плотности и, следовательно, изменения скорости света на галактических расстояниях вследствие преломления света в эфире различной плотности. Подтверждением термической природы искажения изображений галактик является прямая связь этого искажения с радиоизлучением пространства, то есть эфира в этом месте, смещение спектра CMB (космическое микроволновое излучение) в данном направлении в высокочастотную область. Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.